ہیڈ اسپیس جی سیایک نمونے لینے کی تکنیک ہے جس میں گیس کے مرحلے کا تجزیہ کرکے مائع یا ٹھوس نمونوں میں اتار چڑھاؤ کے اجزاء کا بالواسطہ عزم شامل ہے جس میں بند نظام میں نمونہ تھرموڈینامک توازن میں ہے۔

یہ بنیادی طور پر ٹریس مقدار میں اتار چڑھاؤ کے اجزاء کا تعین کرنے کے لئے استعمال ہوتا ہے۔ روایتی نکالنے اور افزودگی کے طریقہ کار (جیسے سالوینٹ نکالنے ، بھاپ آسون ، اور ویکیوم آسون) میٹرکس سے شریک نکالنے والے اجزاء میں موروثی نقصانات رکھتے ہیں اور نکالنے کے ذریعہ سے زیادہ مرکبات متعارف کراتے ہیں۔ دوسری طرف ، ہیڈ اسپیس تجزیہ کو ایک نچوڑ فراہم کرنا ہوگا جو اتار چڑھاؤ والے اجزاء تک محدود ہو جو جی سی کے لئے مناسب ہیں۔

ہیڈ اسپیس نمونے کی غیر مستحکم نوعیت انجیکٹر ، کالم ، اور ڈیٹیکٹر کی صفائی اور دیکھ بھال کی ضرورت کو کم کرتی ہے ، اور آلے کے وقت کو محفوظ کرتی ہے۔ خاص طور پر مفید ہیڈ اسپیس تجزیہ کی مثالوں میں پیکیجنگ اور کھانے میں نقل مکانی کرنے والے آلودگیوں اور اتار چڑھاؤ کے مادوں کی نشاندہی کرنا ، کیڑے مار دوا کے باقیات کا تعین کرنا ، اور ذائقہ اور پینے کے پانی کا تجزیہ کرنا شامل ہے۔

ہیڈ اسپیس تکنیکوں کی درجہ بندی اتنی وسیع اور متنوع ہے کہ درجہ بندی کی کوئی بھی کوشش نامکمل ہے۔ اتار چڑھاؤ کو نکالنے کے طریقہ کار کے مطابق ، ہیڈ اسپیس میں فرق کرنے کے لئے جامد اور متحرک کے دو طریقے ہیں۔ متحرک طریقہ کار میں مختلف قسم کی تکنیک شامل ہیں ، جنھیں پٹی ٹریپ اور پرج ، گیس فیز سٹرنگ تجزیہ اور پرج اور ٹریپ کہا جاتا ہے۔ جامد طریقوں کے ساتھ ، نمونہ اور بخارات بند کنٹینر میں متوازن ہیں اور ہیڈ اسپیس دستی طور پر یا خود بخود سرنج کے ذریعہ نمونہ دار ہوتا ہے۔ دونوں ہی صورتوں میں ، گیس کے گیسوں کے بہاؤ عام طور پر مناسب کیپچر میڈیا ، جیسے سرد ٹریپس ، چالو کاربن یا غیر محفوظ پولیمر سے گزرتے ہیں۔ پھر گیس کرومیٹوگرافی میں ڈالیں۔ یہ نقطہ نظر ایک حراستی اثر فراہم کرتا ہے جس کے ذریعہ حساسیت میں اضافہ ہوتا ہے۔

ایجیرینفروخت کے لئے جی سی ہیڈ اسپیس شیشی کی فراہمی۔

پچھلا:

HPLC حساسیت کے بارے میں بنیادی طور پر وجوہات اور حل

اگلا:

ہیڈ اسپیس شیشی کا اطلاق

ٹیگز: گیس-کرومیٹوگرافی-ویئلز گیس VIAL 10ml-vial 10-ml-گلاس-VIALS

انکوائری